日本日置發(fā)售LCR測(cè)試儀IM3536 上市通知
日本日置發(fā)售LCR測(cè)試儀IM3536 上市通知
HIOKI這次發(fā)售了LCR測(cè)試儀IM3536。IM3536具備4Hz~8MHz寬頻率范圍，實(shí)現(xiàn)高速、高精度測(cè)量。滿足電子元件的研發(fā)和生產(chǎn)等多種領(lǐng)域的要求。
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日本日置發(fā)售LCR測(cè)試儀IM3536開(kāi)發(fā)背景
電容、電感等電子元件除了用于智能手機(jī)、平板電腦等的電子產(chǎn)品外，汽車(chē)等各種產(chǎn)品上面也會(huì)用到。隨著這類(lèi)使用了電子元件的產(chǎn)品的發(fā)展，同時(shí)以“高頻化”“低阻化”“長(zhǎng)壽命化”等角度也要求電子元件具備高性能和高 性。比如：為了將智能手機(jī)、平板電腦等攜帶型產(chǎn)品體積小化，DC-DC逆變器的開(kāi)關(guān)頻率高頻化，而該電源部分所使用的電感也逐步高頻化。而且為了讓電腦的CPU等的電源線中所使用的電容適用于急劇的負(fù)載變化，要求具備低ESR（電容中串聯(lián)的電阻成分）和低ESL（電容里串聯(lián)的電感成分）等特性。
為了測(cè)量廣泛領(lǐng)域中所使用的電子元件的特性，我司開(kāi)發(fā)了范圍廣、精度高的LCR測(cè)試儀IM3536。
日本日置發(fā)售LCR測(cè)試儀IM3536主要用途
電子元件的開(kāi)發(fā)和出貨檢查
日本日置發(fā)售LCR測(cè)試儀IM3536 產(chǎn)品特點(diǎn)
1.測(cè)量頻率4Hz~8MHz，精度保證范圍1mΩ和測(cè)量范圍擴(kuò)大
以往產(chǎn)品（3532-50）的測(cè)量帶寬為42Hz~5Mhz，而IM3536的帶寬擴(kuò)大到了4Hz~8MHz。因此，可以測(cè)量用于各種領(lǐng)域中的電子元件的特性。特別是，zui高頻率8MHz適用于高頻化的電源用電感的測(cè)量。
而且，精度保證范圍比起以往產(chǎn)品10mΩ以上，IM3536的精度保證為1mΩ以上，因此也適用于有低頻化要求的電容等的測(cè)量。
2.和以往產(chǎn)品相比，實(shí)現(xiàn)高速、高精度測(cè)量
IM3536和以往產(chǎn)品相比改善了測(cè)量時(shí)間和基本精度。
比起以往產(chǎn)品的測(cè)量時(shí)間為5ms（0.005秒），IM3536是1ms（0.001秒），測(cè)量速度提高了4倍。因此，用于電子元件的產(chǎn)線中時(shí)，有助于提高產(chǎn)量。
而且，相對(duì)于以往產(chǎn)品的基本精度（代表值）0.08%，IM3536為0.05%，因此適用于有高精度要求的電子元件。
3.連續(xù)測(cè)量功能，1臺(tái)即可完成不同條件的檢查
在電子元件的評(píng)估中，有時(shí)會(huì)需要對(duì)1個(gè)電子元件需要按照不同條件和項(xiàng)目來(lái)測(cè)量。以往產(chǎn)品因?yàn)闇y(cè)量條件的切換時(shí)間和測(cè)量時(shí)間較慢，所以這類(lèi)多種條件檢查會(huì)需要多臺(tái)測(cè)量?jī)x器。
IM3536的測(cè)量條件的切換和測(cè)量實(shí)現(xiàn)了高速化，而且IM3536具備連續(xù)測(cè)量功能（不同測(cè)量項(xiàng)目連續(xù)測(cè)量的功能），因此1臺(tái)IM3536就可以完成以前多臺(tái)測(cè)量?jī)x器才能完成的測(cè)量。 這樣，可以簡(jiǎn)化產(chǎn)線中所用自動(dòng)檢查機(jī)的結(jié)構(gòu)，從而實(shí)現(xiàn)低價(jià)化。
4.具備提高檢查品質(zhì)的接觸檢查功能
檢查時(shí)，發(fā)生測(cè)試探頭的斷線、和被測(cè)物的接觸不良時(shí)，可能存在測(cè)量誤差變大等影響測(cè)量值準(zhǔn)確性的現(xiàn)象。為了防止此類(lèi)事情，標(biāo)配了能夠知道測(cè)試探頭斷線和接觸不良的接觸檢查功能。由此有助于提高檢查的品質(zhì)。
