MiniTest1100/MiniTest2100涂層測厚儀
更新時間:2024-09-10
MiniTest1100/MiniTest2100涂層測厚儀介紹:用于所有非鐵磁性金屬上的各種絕緣涂層??膳?0多種不同用戶和量程的智能探頭,量程0.1μm~100mm。
德國EPK涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點
(德國EPK)MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標準箔校準。
(德國EPK)MiniTest1100/2100/3100/4100新型適用于鐵磁性或有色金屬的兩用探頭,99個校準校準記憶,存儲500組10000個數(shù)值,多種統(tǒng)計數(shù)據(jù)處理方式,聲音超限報警,背光顯示,RS-232接口,可接計算機和打印機.
德國EPK涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術參數(shù):
型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 | ||||
應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù)) | 1 | 1 | 10 | 99 |
每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,可設寬容度極限值) | - | 1 | 10 | 99 |
可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) | - | 1 | 500 | 500 |
數(shù)據(jù)總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
MINITEST統(tǒng)計計算功能 | ||||
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar | - | √ | √ | √ |
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar | - | - | √ | √ |
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
存儲顯示每一個應用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) | - | - | - | √ |
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 | - | - | √ | √ |
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | - | √ | √ | √ |
其他功能 | ||||
透過涂層進行校準(CTC) | - | √ | √ | √ |
在粗糙表面上作平均零校準 | √ | √ | √ | √ |
利用計算機進行基礎校準 | √ | √ | √ | √ |
補償一個常數(shù)(Offset) | - | - | √ | √ |
外設的讀值傳輸存儲功能 | - | √ | √ | √ |
保護并鎖定校準設置 | √ | √ | √ | √ |
換電池是存儲數(shù)值 | √ | √ | √ | √ |
設置極限值 | - | - | √ | √ |
公英制轉(zhuǎn)換 | √ | √ | √ | √ |
連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值 | - | - | √ | √ |
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) | - | - | √ | √ |
浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 | √ | √ | √ | √ |
組內(nèi)單值延遲顯示 | - | √ | √ | √ |
連續(xù)測量模式中顯示zui小值 | √ | √ | √ | √ |
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
探頭 量程 低端
分辨率誤差 半徑(凸/凹) zui小測量
區(qū)域直徑zui小基
體厚度探頭尺寸 磁
感
應
法 < F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm) 3mm 0.2mm φ15x62mm F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 5mm 0.5mm φ15x62mm F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 5mm 0.5mm φ8x170mm F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 5mm 0.5mm φ15x62mm F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm) 20mm 1mm φ25x46mm F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm) 40mm 2mm φ40x66mm F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm) 300mm 2mm φ45x70mm 兩
用
FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm
N50μmφ15x62mm FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 30mm F0.5mm
N50μmφ21x89mm FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 5mm F0.5mm
N50μmφ15x62mm 電
渦
流
法 N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm) 2mm 50μm φ16x70mm N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2mm 100μm φ15x62mm N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2mm 50μm φ15x62mm N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 5mm 50μm φ13x170mm N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm) 50mm 50μm φ60x50mm N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm) 70mm 50μm φ65x75mm N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm) 200mm 50μm φ126x155mm CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm) 7mm 無限制 φ17x80mm
注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
探頭圖示
FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度
F05
0~500μm,φ3mm
磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)
F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
F10
0~10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
F20
0~20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
F50
0~50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
N100
0~100mm,200mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
CN02
10~200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板